RUDOLPH S3000A 橢圓偏光儀

Rudolph S3000A 橢圓偏光儀概述

RUDOLPH S3000A是一款高性能的橢圓偏光儀，廣泛應(yīng)用于薄膜和表面的無損測量。該設(shè)備具有以下主要特點(diǎn)：

1. 高精度與高重復(fù)性：RUDOLPH S3000A能夠提供精確、可靠的測量結(jié)果，適用于科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用。

2. 多通道雙波長設(shè)計(jì)：它是一種先進(jìn)的多通道、雙波長光譜橢圓偏光儀，可以同時(shí)對多達(dá)四個(gè)樣品進(jìn)行測量，確保了結(jié)果的可重復(fù)性和可靠性。

3. 寬波長范圍：該設(shè)備支持從118到8000納米的廣泛波長范圍，能夠測量有機(jī)和無機(jī)半導(dǎo)體、薄膜、光學(xué)層和基板等多種材料。

4. 溫度控制與數(shù)據(jù)收集：配備溫度控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)收集功能，使得用戶可以方便地進(jìn)行旋轉(zhuǎn)分析和數(shù)據(jù)分析。

5. 自校準(zhǔn)光機(jī)與高分辨率檢測器：配備自校準(zhǔn)光機(jī)和高分辨率彩色CCD檢測器，確保了測量的準(zhǔn)確性和長期穩(wěn)定性。

6. 用戶友好的軟件工具：基于Windows的操作系統(tǒng)和先進(jìn)的流程控制軟件，使操作更加簡便，并且便于定制和分析。

7. 晶片尺寸兼容性：可以測量最大150毫米的晶片，樣本厚度范圍為1毫米至4毫米，還可以通過選配模塊提升性能。

8. 應(yīng)用領(lǐng)域：該設(shè)備不僅適用于薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)的測量，還能夠測量應(yīng)力和折射率等物理特性，適用于各種科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用。

總之，RUDOLPH S3000A是一款功能強(qiáng)大且用途廣泛的橢圓偏光儀，適合需要高精度和高重復(fù)性的科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境。